特許
J-GLOBAL ID：200903010528937129
光熱変換分光分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森 哲也 (外2名)
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2001000574
公開番号（公開出願番号）：WO2001-055706
出願日： 2001年01月29日
公開日（公表日）： 2001年08月02日
要約：
【要約】励起光の入射によって試料に生じた熱レンズにプローブ光を入射し、その際の該プローブ光の前記熱レンズによる変化に基づいて前記試料の分析を行う光熱変換分光分析装置において、前記励起光の光源を半導体レーザー発光手段で構成し、前記プローブ光の光源を別の半導体レーザー発光手段で構成し、さらに、前記励起光を前記試料に集光する集光レンズと、前記プローブ光を前記熱レンズに集光する集光レンズとを、共通の集光レンズとする構成とした。このような本発明の光熱変換分光分析装置は、POC分析等を行う装置として必要な、小型で安価である、高感度且つ高精度である、メンテナンスフリーである、立ち上がり時間が早い、測定の自動化が可能である、という要件を全て備えている。
請求項（抜粋）：
励起光の入射によって試料に生じた熱レンズにプローブ光を入射し、その際の該プローブ光の前記熱レンズによる変化に基づいて前記試料の分析を行う光熱変換分光分析装置であって、 前記励起光の光源を半導体レーザー発光手段で構成し、前記プローブ光の光源を別の半導体レーザー発光手段で構成し、 さらに、前記励起光を前記試料に集光する集光レンズと、前記プローブ光を前記熱レンズに集光する集光レンズとを、共通の集光レンズとしたことを特徴とする光熱変換分光分析装置。
IPC (2件)：
G01N 25/16
, G01N 37/00 101
G01N 25/16 C
, G01N 37/00 101
