特許
J-GLOBAL ID:200903031380687320

電極反応特性測定装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大森 純一 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-342604
公開番号(公開出願番号):特開2002-151063
出願日: 2000年11月09日
公開日(公表日): 2002年05月24日
要約:
【要約】【課題】 容易な制御により多種多数の電極材料を高効率で評価することのできる、電極反応特性測定装置を提供する。【解決手段】 被評価試料3の入った複数の凹部2が形成された、電子伝導性を有し、かつイオン伝導性を示さない材料よりなる基板1の凹部2中に、電解質7を注入する電解質分注装置6と、各凹部中に挿入される電極17を有し、前記基板1と電極17間の電圧-電流特性を測定する測定装置16を有する。
請求項(抜粋):
試料の電極反応特性を測定する電極反応特性測定装置であって、試料を保持する複数の凹部を有する基板と、前記基板の凹部内に電解質を供給する電解質供給手段と、前記凹部内の試料の電極反応特性を測定する電極反応特性測定手段とを有することを特徴とする電極反応特性測定装置。
Fターム (5件):
5H050AA19 ,  5H050BA17 ,  5H050CA08 ,  5H050CA09 ,  5H050GA28

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