特許

J-GLOBAL ID：200903075636663706

光変調器の特性測定方法及び装置

発明者： 及川 哲 ,  井筒 雅之 ,  日隈 薫 ,  川西 哲也
出願人/特許権者： 通信・放送機構 ,  独立行政法人通信総合研究所 ,  住友大阪セメント株式会社
代理人 (1件)： 杉村 純子 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-337450
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139653
出願日： 2001年11月02日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
要約：

【要約】【課題】高周波変調時における光変調器の半波長電圧値やチャープパラメータ値などの特性を、正確に測定するための方法及び装置を提供すること。【解決手段】入射光を2つ以上に分岐し、分岐された光の少なくとも一方に電気信号を印加することにより位相変調を行い、その後、該分岐された光を合成することにより強度変調された光信号を発生する光変調器に対し、該光信号のスペクトル分布を測定し、該測定されたスペクトル分布に係る測定値から該光変調器の強度変調に係る特性値を算出することを特徴とする。

請求項（抜粋）：

【請求項1】入射光を2つ以上に分岐し、分岐した光の少なくとも一方に電気信号を印加することにより位相変調を行い、その後、該分岐した光を合成することにより強度変調された光信号を発生する光変調器に対し、該光信号のスペクトル分布を測定し、該測定されたスペクトル分布に係る測定値から該光変調器の強度変調に係る特性値を算出することを特徴とする光変調器の特性測定方法。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ,  G02F 1/035

FI (2件)：

G01M 11/00 T ,  G02F 1/035

Fターム (8件)：

2G086EE12 ,  2H079AA02 ,  2H079AA13 ,  2H079DA03 ,  2H079HA11 ,  2H079KA18 ,  2H079KA19 ,  2H079KA20

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 特開平3-123828