特許
J-GLOBAL ID:200903078859478845

温度計測装置、温度計測方法、残留応力改善方法及びソフトウェアプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 酒井 宏明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-100871
公開番号(公開出願番号):特開2008-256613
出願日: 2007年04月06日
公開日(公表日): 2008年10月23日
要約:
【課題】簡易に温度計測精度を向上することができる温度計測装置、温度計測方法、残留応力改善方法及びソフトウェアプログラムを提供する。【解決手段】加熱手段により加熱される検体の温度変化を、誤差因子に応じて予め解析した解析結果を複数記憶する記憶手段32と、加熱手段により実際に加熱された検体の温度変化を計測可能な計測手段101と、加熱手段による加熱終了後の期間に基づいて計測結果の温度変化と解析結果の温度変化とを比較し、該比較結果に基づいて計測結果を補正可能な補正手段110とを備えることを特徴とする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
加熱手段により加熱される検体の温度変化を、誤差因子に応じて予め解析した解析結果を複数記憶する記憶手段と、 前記加熱手段により実際に加熱された前記検体の温度変化を計測可能な計測手段と、 前記加熱手段による加熱終了後の期間に基づいて、前記計測手段による計測結果の温度変化と前記解析結果の温度変化とを比較し、該比較結果に基づいて前記計測結果を補正可能な補正手段とを備えることを特徴とする、 温度計測装置。
IPC (3件):
G01K 7/00 ,  C21D 1/34 ,  C21D 1/30
FI (4件):
G01K7/00 321C ,  C21D1/34 H ,  C21D1/30 ,  G01K7/00 381D
引用特許:
出願人引用 (1件)

前のページに戻る