特許

J-GLOBAL ID：201103029102988304

高精度マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法

発明者： 川西 哲也 ,  中島 慎也 ,  品田 聡
出願人/特許権者： 独立行政法人情報通信研究機構
代理人 (1件)： 廣瀬 隆行
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2008000483
公開番号（公開出願番号）：WO2009-110039
出願日： 2008年03月07日
公開日（公表日）： 2009年09月11日
要約：

【課題】 本発明は,特に,複数のマッハツェンダー(MZ)干渉計を含む光変調器における個々のMZ干渉計の特性を評価する方法を提供することを上記とは別の目的とする。 【解決手段】 本発明の方法は,MZ干渉計のバイアス電圧を調整する工程と,0次成分を消去する工程と,出力強度を測定する工程と,特性を評価する工程とを含む。この光変調器(1)は,第1のMZ干渉計(2)と,第2のMZ干渉計(3)を含む。そして,第1のMZ干渉計(2)は,分波部(5)と,2つのアーム(6,7)と,合波部(8)と,図示しない電極を含む。 【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

マッハツェンダー干渉計(MZ干渉計)を含む,光変調器の特性を評価する方法であって, 前記MZ干渉計は,分波部と,2つのアームと,合波部と,電極とを含み, 前記2つのアームは,前記分波部と接続され, 前記合波部は,前記2つのアームと接続され, 前記電極は,前記2つのアームにバイアス電圧を印加でき, 前記電極は,前記2つのアームに変調信号を印加でき,

IPC (2件)：

G02F 1/01 ,  G01M 11/00

FI (2件)：

G02F1/01 B ,  G01M11/00 T

Fターム (14件)：

2G086EE12 ,  2H079AA02 ,  2H079AA12 ,  2H079BA01 ,  2H079BA03 ,  2H079CA04 ,  2H079DA03 ,  2H079DA16 ,  2H079DA22 ,  2H079EA05 ,  2H079FA01 ,  2H079FA04 ,  2H079GA03 ,  2H079HA11

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特許第3538619号公報
  
• 特許第3866082号公報