光変調器の特性測定方法及び装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者： ,
代理人 (2件)：杉村純子 , 田村爾
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-337450
公開番号（公開出願番号）：特開2003-139653
特許番号：特許第3866082号
出願日： 2001年11月02日
公開日（公表日）： 2003年05月14日
請求項（抜粋）：

【請求項1】入射光を2つ以上に分岐し、分岐した光の少なくとも一方に電気信号を印加することにより位相変調を行い、その後、該分岐した光を合成することにより強度変調された光信号を発生する光変調器に対し、該光信号のスペクトル分布を測定し、該測定されたスペクトル分布に係る測定値から該光変調器の強度変調に係る特性値である光変調器の半波長電圧値を算出することを特徴とする光変調器の特性測定方法。

IPC (2件)：