特許

J-GLOBAL ID：201103086141832218

複数マッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法

発明者： 川西 哲也 ,  中島 慎也 ,  品田 聡
出願人/特許権者： 独立行政法人情報通信研究機構
代理人 (1件)： 廣瀬 隆行
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2008000575
公開番号（公開出願番号）：WO2009-113128
出願日： 2008年03月13日
公開日（公表日）： 2009年09月17日
要約：

【課題】 本発明は,特に,複数のMZ干渉計を含む光変調器における個々のMZ干渉計の特性を評価する方法を提供することを上記とは別の目的とする。 【解決手段】 光変調器が,複数のMZ干渉計を含む場合,0次成分は,特性を評価するMZ干渉計以外のMZ干渉計に由来する信号が含まれる。このため,MZ干渉計の特性を正確に評価できない。本発明では,通常,最も強度が高くなる0次成分をあえて特性の評価に用いない。すなわち,0次成分以外の成分のサイドバンド強度を用いて,MZ干渉計の特性を評価する。 【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

マッハツェンダー干渉計(MZ干渉計)を含む,光変調器の特性を評価する方法であって, 前記MZ干渉計は,分波部と,2つのアームと,合波部と,電極とを含み, 前記2つのアームは,前記分波部と接続され, 前記合波部は,前記2つのアームと接続され, 前記電極は,前記2つのアームにバイアス電圧を印加でき, 前記電極は,前記2つのアームに変調信号を印加でき,

IPC (1件)：

G01M 11/00

FI (1件)：

G01M11/00 T

Fターム (1件)：

2G086EE07

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 特許第3538619号公報
  
• 特許第3866082号公報