文献
J-GLOBAL ID：201202111560079641
整理番号：12A1400468
STM・STSによるGaAs(001)面及び超薄膜Si/GaAs(001)表面のナノスケール評価(2)
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著者 (4件)：
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資料名：
巻：
48th
号：
3
ページ：
1370
発行年：
2001年03月28日
JST資料番号：
Y0054A
資料種別：
会議録 (C)
発行国：
日本 (JPN)
言語：
日本語 (JA)
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