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J-GLOBAL ID：201302245184655397   整理番号：13A0400073

放射光STMによるナノスケール元素分析-元素コントラストの特性評価-

著者 (14件)： 松野浩之 (大阪大 大学院) ,  松野浩之 (理研) ,  齋藤彰 (大阪大 大学院) ,  齋藤彰 (理研) ,  田中武拓 (大阪大 大学院) ,  田中武拓 (理研) ,  高木康多 (岡崎国立共同研究機構 分子科研) ,  田中義人 (理研) ,  香村芳樹 (理研) ,  赤井恵 (大阪大 大学院) ,  石川哲也 (理研) ,  桑原裕司 (大阪大 大学院) ,  桑原裕司 (理研) ,  青野正和 (物質・材料研究機構)
資料名： 表面科学学術講演会講演要旨集  (表面科学学術講演会要旨集)
巻： 32nd  ページ： 241  発行年： 2012年11月20日 
JST資料番号： L1366A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *シンクロトロン放射 ,  走査型トンネル顕微鏡 ,  *規模 ,  *元素分析 ,  内殻励起 ,  ナノ構造 ,  *ナノスケール
準シソーラス用語： *放射光 ,  半導体ナノ構造

分類 (1件)： 表面の電子構造  (BM02080J)

タイトルに関連する用語 (7件)： 放射光 ,  STM ,  ナノスケール ,  元素分析 ,  元素 ,  コントラスト ,  特性評価