特許

J-GLOBAL ID：201303055307955579

非破壊検査装置

発明者： 佐藤 康元 ,  北山 綱次 ,  小倉 夏樹 ,  巨 陽 ,  細井 厚志
出願人/特許権者： 株式会社豊田中央研究所 ,  国立大学法人名古屋大学
代理人 (1件)： 特許業務法人YKI国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-173971
公開番号（公開出願番号）：特開2013-036894
出願日： 2011年08月09日
公開日（公表日）： 2013年02月21日
要約：

【課題】従来よりも欠陥の検出精度を向上させる。【解決手段】非破壊検査装置10は、電磁波を出力する送信器12と、被検査部位22からの前記電磁波の反射波を受信する受信器14と、被検査部位22と前記受信器14の間隔を変更する変位手段16と、を備える。さらに、異なる被検査部位22について複数の前記間隔毎に前記受信器14で受信された反射波の差又は比を用いて当該被検査部位22の欠陥の有無を判定する判定部44を備える。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

電磁波を出力する送信器と、 被検査部位からの前記電磁波の反射波を受信する受信器と、 被検査部位と前記受信器の間隔を変更する変位手段と、 異なる被検査部位について複数の前記間隔毎に前記受信器で受信された反射波の差又は比を用いて当該被検査部位の欠陥の有無を判定する判定部と、 を備えることを特徴とする非破壊検査装置。

IPC (2件)：

G01N 22/00 ,  G01N 27/90

FI (4件)：

G01N22/00 S ,  G01N27/90 ,  G01N22/00 X ,  G01N22/00 V

Fターム (7件)：

2G053AA11 ,  2G053AB21 ,  2G053BC14 ,  2G053CA03 ,  2G053CB13 ,  2G053CC01 ,  2G053DB24