文献

J-GLOBAL ID：201402245378390880   整理番号：14A0536721

二次元位相回折格子を用いたXFELナノビームのシングルショット波面計測

著者 (21件)： 西原明彦 (大阪大) ,  福井亮介 (大阪大) ,  松山智至 (大阪大) ,  KIM Jangwoo (大阪大) ,  長平良綾香 (大阪大) ,  湯本博勝 (高輝度光科学研究セ) ,  三村秀和 (東大 大学院工学系研究科) ,  小山貴久 (高輝度光科学研究セ) ,  登野健介 (高輝度光科学研究セ) ,  犬伏雄一 (高輝度光科学研究セ) ,  佐藤尭洋 (高輝度光科学研究セ) ,  片山拓也 (高輝度光科学研究セ) ,  富樫格 (高輝度光科学研究セ) ,  矢代航 (東北大 多元物質科研) ,  佐野泰久 (大阪大) ,  大橋治彦 (高輝度光科学研究セ) ,  百生敦 (東北大 多元物質科研) ,  後藤俊治 (高輝度光科学研究セ) ,  矢橋牧名 (理研 播磨研) ,  石川哲也 (理研 播磨研) ,  山内和人 (大阪大)
資料名： 精密工学会大会学術講演会講演論文集  (精密工学会大会シンポジウム資料集)
巻： 2014  号： 春季(CD-ROM)  ページ： ROMBUNNO.R43  発行年： 2014年03月01日 
JST資料番号： Y0914A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,X線自由電子レーザー(XFEL:X-ray Free Electron Laser)が発振され,その利用に際して,ショット毎にX線の集光状態を保障することが求められている。我々は,二次元位相回折格子によるTalbot効果を利用したSingle grating干渉計を開発し,SACLAにおいてXFEL集光ビームの波面計測を行った。10keVの硬X線をKBミラーで二段集光を行い,回折格子による自己像を取得して解析した結果,波面の位相誤差を再構成することに成功した。(著者抄録)

シソーラス用語： *X線レーザ ,  *自由電子レーザ ,  *集光 ,  位相格子 ,  *波面 ,  干渉計 ,  *X線自由電子レーザ ,  Talbot効果
準シソーラス用語： *XFEL

分類 (2件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  その他のレーザ  (BD04090H)

タイトルに関連する用語 (6件)： 位相回折格子 ,  XFEL ,  ナノビーム ,  ショット ,  波面 ,  計測