特許

J-GLOBAL ID：201403057509706589

複数のマッハツェンダー干渉計を有する光変調器の特性評価方法

発明者： 川西 哲也 ,  千葉 明人 ,  市川 潤一郎 ,  須藤 正明
出願人/特許権者： 独立行政法人情報通信研究機構 ,  住友大阪セメント株式会社
代理人 (3件)： 廣瀬 隆行 ,  関 大祐 ,  野津 万梨子
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-529707
特許番号：特許第5622154号
出願日： 2009年09月07日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 複数のマッハツェンダー干渉計(MZI)を含む光変調器の特性を評価する方法であって, 前記光変調器は,並列に接続されたN個(Nは2以上の整数)のMZIを含み,評価対象MZIをK番目のMZI(MZIK)とし,前記MZIKのn次サイドバンド成分の強度をSn,kとすると, 前記方法は,出力強度を測定する工程と,MZIの特性を評価する工程とを含み, 前記出力強度を測定する工程は, 前記光変調器からの出力光に含まれるサイドバンド信号の強度(Sn,K)を求める工程であり, 前記特性を評価する工程は, 前記Sn,kを用いて,前記MZIKの特性を評価する工程であり, 第1のアームの変調指数をA1,Kとし,MZIKのチャープパラメータをαK*とし,AKをAK=A1,K+αK*で定義される値とし,Jnを第一種ベッセル関数とした場合に, J2(AK)>J3(AK)のとき,AKがAKの所定値より小さいものとしてAKを求め, J2(AK)<J3(AK)のとき,AKがAKの所定値より大きいものとしてAKを求める工程を含む, 方法。

IPC (2件)：

G01M 11/00 ( 200 6.01) ,  G02F 1/035 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G01M 11/00 T ,  G02F 1/035

引用文献：

出願人引用 (1件)

• 変調光スペクトルによるマッハツェンダー変調器の詳細特性測定

審査官引用 (1件)

• 変調光スペクトルによるマッハツェンダー変調器の詳細特性測定