特許

J-GLOBAL ID：201403068408920387

画質推定装置、画質推定方法および画質推定プログラム

発明者： 和田 直史 ,  甲藤 二郎
出願人/特許権者： 株式会社サムスン日本研究所 ,  学校法人早稲田大学
代理人 (1件)： 八田国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-286871
公開番号（公開出願番号）：特開2014-130427
出願日： 2012年12月28日
公開日（公表日）： 2014年07月10日
要約：

【課題】画像に固有の空間周波数特徴、時間周波数特徴の影響を考慮して、より良い精度で画質推定できる画質推定装置、画質推定方法および画質推定プログラムを提供する。【解決手段】本発明に係る画質推定装置は、画像を構成する各画素から求まる複雑度に基づいて、学習用に予め劣化させた学習用画像を分類する第1画像分類部40と、第1画像分類部40により分類された学習用画像と、劣化前後の学習用画像の比較により学習用画像に与えられる画質評価値とを関連付け、当該関連付けを異なる学習用画像を用いて繰り返し、画質劣化度を分類毎に学習する学習部50と、複雑度に基づいて、検査画像を分類する第2画像分類部80と、学習部50による学習結果に基づいて、第2画像分類部80により分類された検査画像の画質劣化度を分類毎に推定する推定部90と、を有する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

画像を構成する各画素から求まる複雑度に基づいて、学習用に予め劣化させた学習用画像を分類する第1画像分類部と、 前記第1画像分類部により分類された前記学習用画像と、劣化前後の学習用画像の比較により前記学習用画像に与えられる画質評価値とを関連付け、当該関連付けを異なる学習用画像を用いて繰り返し、画質劣化度を分類毎に学習する学習部と、 前記複雑度に基づいて、検査画像を分類する第2画像分類部と、 前記学習部による学習結果に基づいて、前記第2画像分類部により分類された検査画像の画質劣化度を分類毎に推定する推定部と、 を有する画質推定装置。

IPC (2件)：

G06T 7/00 ,  H04N 17/04

FI (2件)：

G06T7/00 Q ,  H04N17/04 C

Fターム (9件)：

5C061BB07 ,  5C061CC05 ,  5C061EE05 ,  5C061EE07 ,  5L096AA06 ,  5L096FA06 ,  5L096FA33 ,  5L096KA04 ,  5L096MA01