文献
J-GLOBAL ID:202102247732886744   整理番号:21A1969703

シリコン立体構造ファセット表面からの光電子分光

Photoelectron spectroscopy from facet surfaces of three-dimensional Si structures
著者 (10件):
資料名:
巻: 76  号:ページ: ROMBUNNO.12pJ1-1  発行年: 2021年03月24日 
JST資料番号: S0671C  ISSN: 2189-079X  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
本文一部表示:
本文一部表示
文献の本文または文献内に掲載されている抄録の冒頭(最大100文字程度)を表示しています。
非表示の場合はJDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌登載から半年~1年程度経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
立体構造化試料の精密な作製、及びその表面制御は、IOTデバイス科学技術の革新に直結する重要な課題である。我々はフォトリソグラフィ、エッチング処理などのナノ加工技術と超高真空での表面制御技術を組み合わせて、Si(111),(110),(001...【本文一部表示】
シソーラス用語:
シソーラス用語/準シソーラス用語
文献のテーマを表すキーワードです。
部分表示の続きはJDreamⅢ(有料)でご覧いただけます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。

分類 (1件):
分類
JSTが定めた文献の分類名称とコードです
電子分光スペクトル 
タイトルに関連する用語 (4件):
タイトルに関連する用語
J-GLOBALで独自に切り出した文献タイトルの用語をもとにしたキーワードです

前のページに戻る