文献

J-GLOBAL ID：202302279699401249   整理番号：23A2513848

ナノスケール半導体中の電子の時間発展から不純物分布を予測するモデル化

Modeling to Predict Impurity Distribution from Time Evolution of Electron in Nanoscale Semiconductors

著者 (5件)： 村口正和 (北海道科大) ,  原田和輝 (北海道科大) ,  小林祐貴 (北海道科大) ,  伊藤佳卓 (北海道科大) ,  須子統太 (早稲田大)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 70th  ページ： ROMBUNNO.16a-PB04-1  発行年： 2023年02月27日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

本文一部表示： ...【本文一部表示】

シソーラス用語： ハミルトニアン ,...

ログイン（無料）して見る     続きはJDreamIII（有料）にて  {{ this.onShowAbsJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=23A2513848&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=Y0054B") }}

分類 (1件)： 生体の顕微鏡観察法  (EA03050C)

タイトルに関連する用語 (6件)： ナノスケール ,  電子 ,  発展 ,  不純物分布 ,  予測 ,  モデル化