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文献
J-GLOBAL ID:200902005946829823   整理番号:86A0331676

レーザー励起法による固体表面微量分析 スパッタされた中性原子の利用

Trace surface analysis by laser excitation - Detection of sputtered neutral atoms.
著者 (2件):
資料名:
巻: 55  号:ページ: 384-388  発行年: 1986年04月 
JST資料番号: F0252A  ISSN: 0369-8009  CODEN: OYBSA  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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高出力短波長パルスレーザを利用して,最近,スパッタ中性原子の...
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分類 (2件):
分類
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レーザ照射・損傷  ,  分光分析 
引用文献 (18件):
  • 1) H. J. Heinen: Int. J. Mass Spectrom. & Ion. Phys. 38 (1981) 309.
  • 2) E. Hintz and P. Bogen: J. Nucl. Mater. 128 & 129 (1984) 229.
  • 3) G. S. Hurst, M. G. Payne, D. S. Kramer and J. P. Young: Rev. Mod. Phys.' 51 (1979) 767.
  • 4) J. E. Parks, H. W. Schmitt, G. S. Hurst and W. M. Fairbank, Jr.: Thin Solid Films 108 (1983) 69.
  • 5) M. J. Peiiln, C. E. Young, W. F. Calaway and D. M. Gruen: Surf. Sci. 144 (1984) 619.
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タイトルに関連する用語 (5件):
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