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J-GLOBAL ID:200902060644849575   整理番号:90A0118090

LSI故障診断システム

A system for LSI fault diagnosis.
著者 (4件):
資料名:
巻: 89  号: 348(ICD89 163-174)  ページ: 67-72  発行年: 1989年12月15日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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集積回路の論理データ,そのテストパターンおよび試験結果を用い...
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準シソーラス用語:
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分類 (2件):
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固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  集積回路一般 
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