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J-GLOBAL ID：200902110794787664   整理番号：95A0587084

光キャリアグレーティング法による低温成長GaAsの評価

Characterization of low temperature grown GaAs by photo-carrier grating technique.

著者 (4件)： 飯田治久 (北陸先端科学技術大学院大) ,  土家琢磨 (北陸先端科学技術大学院大) ,  片山信一 (北陸先端科学技術大学院大) ,  前田毅 (富士通研)
資料名： 応用物理学関係連合講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Spring Meeting. Japan Society of Applied Physics and Related Societies)
巻： 42nd  号： Pt 3  ページ： 1290  発行年： 1995年03月 
JST資料番号： Y0054A  資料種別： 会議録 (C)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

タイトルに関連する用語 (5件)： 光キャリア ,  グレーティング ,  低温成長 ,  GaAs ,  評価