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J-GLOBAL ID:200902116981907043   整理番号:97A0345326

Si(111)面上Ge成長のその場走査電子顕微鏡観察

In situ scanning electron microscopy of Ge growth on Si(111) surface.
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資料名:
巻: 1996  号: Autumn Pt 2  ページ: 642  発行年: 1996年09月 
JST資料番号: S0872B  資料種別: 会議録 (C)
発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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