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J-GLOBAL ID：200902117804854173   整理番号：01A0097597

大面積超伝導薄膜の表面抵抗の測定

Measurement of Surface Resistance of Large Area Superconducting Films.

著者 (7件)： 楠正暢 (山形大 工) ,  向田昌志 (山形大 工) ,  大嶋重利 (山形大 工) ,  LORENZ M (Univ. Leipzig, Leipzig, DEU) ,  HOCHMUTH H (Univ. Leipzig, Leipzig, DEU) ,  NATUSCH D (Univ. Leipzig, Leipzig, DEU) ,  TAHRIGEN T (Univ. Leipzig, Leipzig, DEU)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 100  号： 399(SCE2000 28-36)  ページ： 49-54  発行年： 2000年10月27日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 誘電体共振器を用いた超伝導体の表面抵抗(R_s</s...

シソーラス用語： *超伝導薄膜 ,...

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分類 (1件)： 超伝導体の物性一般  (BM04021A)

引用文献 (7件)：

• 日本規格協会. マイクロ波用ファインセラミクスの誘電特性の試験方法. JIS R 1627. 1996
• KOBAYASHI, Y. IEEE Trans. Microwave Theory and Tech. 1985, 33, 586
• 吉川博道. 電子情報通信学会信学技報. 1999, 99, 33
• 楠正暢. 通信学会信学技報. 1999, 99, 59
• INADOMARU, M. Advances In Superconductivity. 1999, XII, 1069

タイトルに関連する用語 (3件)： 大面積 ,  超伝導薄膜 ,  表面抵抗