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J-GLOBAL ID：200902121495308301   整理番号：02A0247614

高信頼性と高性能を両立するシステムオンチップ対応CMOS

SoC CMOS Technology for Both High Reliability and High Performance.

著者 (8件)： 西田征男 (三菱電機 ULSI技開セ) ,  佐山弘和 (三菱電機 ULSI技開セ) ,  太田一伸 (三菱電機 ULSI技開セ) ,  尾田秀一 (三菱電機 ULSI技開セ) ,  片山実紀 (三菱電機 ULSI技開セ) ,  井上靖朗 (三菱電機 ULSI技開セ) ,  森本博明 (三菱電機 ULSI技開セ) ,  犬石昌秀 (三菱電機 ULSI技開セ)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 101  号： 573(SDM2001 213-226)  ページ： 17-23  発行年： 2002年01月22日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 工程の増加を伴わずに,表面チャネル(Surface chan...

シソーラス用語： CMOS構造 ,...

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分類 (1件)： トランジスタ  (NC03070N)

引用文献 (5件)：

• KIMIZUKA, N. Symp. VLSI Tech., 1999. 1999, 73
• LEE, Y. H. IEEE/IRPS, 2000. 2000, 77
• OHGURO, T. Symp. VLSI Tech., 2001. 2001, 91
• TSUCHIYA, T. Symp. Ext. Abstract SSDM, 1990. 1990, 291
• SAYAMA, H. IEDM Tech. Dig., 2000. 2000, 239

タイトルに関連する用語 (4件)： 高信頼性 ,  高性能 ,  システムオンチップ ,  CMOS