文献

J-GLOBAL ID：200902163947908063   整理番号：97A0173200

TCADキャリブレーションの問題と統計手法の利用技術

The Problems for TCAD Calibration and the Application of Statistical Method.

著者 (4件)： 佐藤久子 (日立 デバイス開セ) ,  常野克己 (日立 デバイス開セ) ,  青山仁子 (日立 デバイス開セ) ,  増田弘生 (日立 デバイス開セ)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 96  号： 359(SDM96 119-131)  ページ： 35-41  発行年： 1996年11月14日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： LSIの開発期間の短縮,開発費の低減を目標としてTCAD(T...

シソーラス用語： 超LSI ,...
準シソーラス用語： RSF【関数】

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分類 (1件)： 集積回路一般  (NC03161C)

引用文献 (4件)：

• SATO, H. SISPAD96. 1996, 95
• 常野克己. 信学技報. 1994, SDM94-101
• MASUDA, H. IEICE Trrans. Electron. 1991, E74, 1621
• SATO, H. IEICE Trrans. Electron., C. 1996, E79, 226

タイトルに関連する用語 (3件)： TCAD ,  キャリブレーション ,  統計手法