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J-GLOBAL ID：200902177047252600   整理番号：02A0703684

テスト容易化設計技術の現状と課題

著者 (1件)： 相京隆 (富士通 電子デバイス事業本部 CAD開発統括部)
資料名： 電子情報通信学会大会講演論文集  (電子情報通信学会ソサイエティ大会講演論文集)
巻： 2002  号： ソサイエティ C  ページ： 157-158  発行年： 2002年08月20日 
JST資料番号： G0508A  ISSN： 1349-1369  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年のLSIの大規模,高集積化,高性能化によりLSIのテスト...

シソーラス用語： *LSI【IC】 ,...
準シソーラス用語： テスト容易化設計

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分類 (3件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  論理回路  (NC05070B) ,  集積回路一般  (NC03161C)

タイトルに関連する用語 (2件)： テスト容易化設計 ,  現状