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J-GLOBAL ID：200902244167859800   整理番号：08A0106427

簡易粒径計測システムの概要

著者 (4件)： 鈴木孝司 (豊橋技科大) ,  斉藤朗 (富山商船高専) ,  藤松孝裕 (鈴鹿工高専) ,  林田和宏 (北見工大)
資料名： 微粒化シンポジウム講演論文集
巻： 16th  ページ： 43-48  発行年： 2007年12月19日 
JST資料番号： L2163A  ISSN： 1341-6030  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 粒径 ,  *粒度分析 ,  *光回折 ,  光センサ ,  微粒化 ,  散乱光 ,  粒度分布 ,  数値計算 ,  測定誤差 ,  *Sauter径
準シソーラス用語： レーザ回折 ,  粒径測定

分類 (1件)： 長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

引用文献 (6件)：

• 日本液体微粒化学会編. アトマイゼーション・テクノロジー. 2001
• 鈴木孝司. 微粒化. 2007, 16, 54, 34-46
• 伊藤正行. RC114研究成果報告書 (最終). 1994, 260-290
• 瀧澤義順. トランジスタ技術. 2005, 42, 485, 116-122
• JIS Z 8825-1. 2001

タイトルに関連する用語 (4件)： 簡易 ,  粒径 ,  計測システム ,  概要