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J-GLOBAL ID:200902253654625821   整理番号:09A0005414

フェムト秒パルスレーザを用いた低温用薄膜熱物性測定技術の開発

Development of measurement technique for thermophysical properties of thin films at low temperature using a femtosecond pulse laser
著者 (5件):
資料名:
巻: 29th  ページ: 354-356  発行年: 2008年10月08日 
JST資料番号: X0031A  ISSN: 0911-1743  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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フェムト秒パルスレーザを用いた,低温での金属薄膜の熱輸送現象を観測するための計測システムを開発した。装置概要,測定原理,及び測定法を述べた。この開発した装置を用いてMgO単結晶基板上のPt薄膜の低温における熱輸送現象の測定を行った。結果として,厚さ90nmのPt薄膜の低温でのサーモリフレクタンス信号の測定に成功した。サーモリフレクタンス信号の曲線形状は,ピコ秒サーモリフレクタンスのものと類似していた。この測定技術は,これまで明かにされてこなかった平均自由行程と膜厚が近接状態での,熱伝導現象の解明に役立つものと期待できる。
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分類 (3件):
分類
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熱物性一般  ,  金属薄膜  ,  レーザの応用 
引用文献 (5件):
  • TAKETOSHI, N. Jpn. J. Appl. Phys. 1999, 38, L1268
  • TAKETOSHI, N. Rev. Sci. Instrum. 2005, 76, 094903
  • TAKETOSHI, N. Means. Sci. Tehnol. 2001, 12, 2064
  • KITTEL, C. Introduction to Solid State Physics. 1996
  • 日本熱物性学会編. 熱物性ハンドブック. 1990
タイトルに関連する用語 (5件):
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