文献

J-GLOBAL ID：200902253708081873   整理番号：09A0286121

宇宙線観測装置CALETのフロントエンド回路の耐放射線性能

Study on Radiation Damage of FEC for Cosmic-ray Observation with CALET

著者 (15件)： 田村忠久 (神奈川大 工) ,  日比野欣也 (神奈川大 工) ,  奥野祥二 (神奈川大 工) ,  鳥居祥二 (早大 理工総研) ,  清水雄輝 (早大 理工総研) ,  赤池陽水 (早大 理工総研) ,  平晃一 (早大 理工総研) ,  日高健 (早大 理工総研) ,  福田康博 (早大 理工総研) ,  吉田賢二 (芝浦工大 システム工) ,  片寄祐作 (横浜国大 工) ,  CHEN D. (横浜国大 工) ,  内堀幸夫 (放医研) ,  北村尚 (放医研) ,  山岡和貴 (青山学院大 理工)
資料名： NIRS-M (National Inst. of Radiological Sciences)  (NIRS-M (National Inst. of Radiological Sciences))
号： 214  ページ： 238-239  発行年： 2008年06月 
JST資料番号： Z0881A  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 宇宙線観測装置CALETのフロントエンド回路のVLSIの耐放射線性能について調べた。第一段階で開発した0.8μmプロセスのVLSIと,第二段階の0.35μmプロセスのVLSIを対象とし,宇宙線の中でも陽子に次ぐ強度のHeを照射し,耐放射線性能を評価した。放射線損傷とSEUなどについての詳細な解析は今後進める予定である。

シソーラス用語： *超LSI ,  *耐放射線性 ,  観測装置 ,  ヘリウム ,  イオン照射
準シソーラス用語： 宇宙線観測装置

分類 (1件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 宇宙線 ,  観測装置 ,  CALET ,  フロントエンド回路 ,  耐放射線性