文献

J-GLOBAL ID：200902268399447385   整理番号：08A0600967

放射光テラヘルツ分光および光電子分光による固体の局在から遍歴に至る電子状態

著者 (1件)： 木村真一 (分子科研)
資料名： 分子研レターズ  (IMS Letters)
巻： 57  ページ： 4-7  発行年： 2008年05月 
JST資料番号： L6157A  ISSN： 0385-0560  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 電子状態を測定する重要な手段として,テラヘルツ分光と光電子分光がある。テラヘルツ分光は電子占有状態と非占有状態の掛け合わせを高い絶対値精度と高いエネルギー分解能で観測できる。この種の研究を行なうために極端紫外光件k集施設の放射光源(UVSOR-II)の赤外テラヘルツビームラインを再構築した。光電子分光は運動量空間内の各点での寝固有値を決定できる。3次元角度分解光電子分光を行なうためにUVSOR-II真空紫外光電子分光ビームラインを再構築した。筆者らはこれらのビームラインの特徴を生かし,同一試料に対して両方の分光を行ない,物性を担う電子状態の研究を進めている。重い電子系Ce-112の電子分光そして量子臨界点物質YbRh₂Si₂の光学応答の研究例を紹介する。

シソーラス用語： *スペクトロスコピー ,  *光電子分光法 ,  分解能 ,  赤外線 ,  重いFermi系 ,  電子系 ,  *ケイ化物 ,  *ロジウム化合物 ,  *イッテルビウム化合物 ,  金属間化合物 ,  応答
準シソーラス用語： *テラヘルツ分光法 ,  真空紫外光電子分光法 ,  光応答

分類 (1件)： 電子分光スペクトル  (BM09060K)

引用文献 (7件)：

• S. Doniach, Physica B&C 91B, 231(1977).
• S. Kimura, E. Nakamura, T. Nishi, Y. Sakurai, K. Hayashi, J. Yamazaki and M. Katoh, Infrared Phys. Tech. 49, 147(2006).
• T. Ito, S. Kimura, H. J. Im, E. Nakamura, M. Sakai, T. Horigome, K. Soda and T. Takeuchi, AIP Conf. Proc. 879, 587(2007).
• 木村真一, 分子研レターズ55, 24(2007); S. Kimura, T. Ito, E. Nakamura, M. Hosaka and M. Katoh, AIP Conf. Proc. 879, 527(2007).
• H. J. Im, T. Ito, H.-D. Kim, S. Kimura, K. E. Lee, J. B. Hong, Y. S. Kwon, A. Yasui and H. Yamagami, Phys. Rev. Lett., in press.

タイトルに関連する用語 (5件)： 放射光 ,  テラヘルツ分光 ,  光電子分光 ,  固体 ,  電子状態