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J-GLOBAL ID：200902279044654497   整理番号：08A0944347

単一光子検出用メサ型InAlAs-APDのゲートモード動作とアフターパルス測定

著者 (6件)： 中田武志 (NEC ナノエレクトロニクス研) ,  水木恵美子 (NEC ナノエレクトロニクス研) ,  高橋成五 (NEC システムプラットフォーム研) ,  牧田紀久夫 (NEC ナノエレクトロニクス研) ,  富田章久 (NEC ナノエレクトロニクス研) ,  富田章久 (JST-ERATO)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集  (Extended Abstracts. Annual Meeting. Japan Society of Applied Physics)
巻： 69th  号： 3  ページ： 1016  発行年： 2008年09月02日 
JST資料番号： Y0055A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *アバランシェフォトダイオード ,  化合物半導体 ,  メサ構造 ,  *光検出器
準シソーラス用語： ヒ化インジウムアルミニウム ,  *単一光子検出器

分類 (1件)： 光導電素子  (NC03083X)

タイトルに関連する用語 (7件)： 単一光子検出 ,  メサ型 ,  InAlAs ,  APD ,  ゲート ,  アフター ,  パルス測定