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J-GLOBAL ID：200902282580475555   整理番号：09A0113998

ハードウェアテスト生成ツールを用いた組込みシステムに対するテストケース生成法

Test Case Generation for Embedded Systems Using A Hardware Test Generation Tool

著者 (5件)： 樋上喜信 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  藤尾昇平 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  阿萬裕久 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高橋寛 (愛媛大 大学院理工学研究科) ,  高松雄三 (愛媛大 大学院理工学研究科)
資料名： 情報処理学会シンポジウム論文集  (情報処理学会ワークショップ論文集)
巻： 2008  号： 9  ページ： 151-157  発行年： 2008年10月22日 
JST資料番号： Y0978B  ISSN： 1344-0640  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 近年,組込みシステムの応用範囲は多岐に亘っており,多くの場合においてその高い信頼性が要求される。しかしながら,システムが複雑になるに従い,組込みシステムの検証・テストは,一般に高コストまたは複雑となり,効率の良い検証法およびテスト手法の開発が強く要求されている。本論文では,組込みシステムに対して,ハードウェア用テスト生成ツールを用いたテストケース生成法を提案する。提案法では,仕様を元に得られたフローチャートから原因-結果グラフを作成し,それをさらに論理回路として表現する。次に,得られた論理回路に対して,ハードウェアテスト生成ツールを適用し,テストケースを自動的に生成する。(著者抄録)

シソーラス用語： システム ,  *ハードウェア試験 ,  *CAD【計算機】 ,  プログラム検証 ,  *論理回路 ,  支援プログラム ,  自動化 ,  ジェネレータ ,  組込みシステム
準シソーラス用語： ソフトウェアツール ,  テストケース ,  *テスト生成

分類 (2件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  論理回路  (NC05070B)

タイトルに関連する用語 (5件)： ハードウェア ,  テスト生成 ,  ツール ,  組込みシステム ,  テストケース生成