抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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クロロフィル蛍光計測は,接触なしで植物の葉の光合成能を算定するための有用な手段である。クロロフィル蛍光強度におけるダイナミックな変化は,”インダクション画像”と呼ばれるが,”インダクション法”は,インダクション画像の解析によって植物の葉中の光合成機能障害を検知する代表的な方法である。本研究では,弱光励起クロロフィル蛍光インダクション画像計測は,強い光照射処理によって生じる光阻害を検知できるかどうかについて調べた。結果として,強い光照射処理によって生じる個々のトマトの葉に生じる光阻害が,弱光励起されたクロロフィル蛍光インダクション画像計測によって検知された。さらに,24時間の暗い状態下で光阻害を軽減する間のクロロフィル蛍光インダクション画像の連続計測は,P値,すなわち,クロロフィル蛍光インダクション画像における最大のクロロフィル蛍光強度が,光阻害の指標として用いられることを証明した。