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J-GLOBAL ID：200902292617172561   整理番号：09A1101327

ナノテクノロジー計量計測における国際標準化

著者 (2件)： 藤本俊幸 (産業技術総合研 計測標準研究部門) ,  一村信吾 (産業技術総合研)
資料名： 顕微鏡  (Microscopy)
巻： 44  号： 3  ページ： 185-190  発行年： 2009年09月30日 
JST資料番号： Y0541A  ISSN： 1349-0958  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 20世紀後半から著しく進展したナノテクノロジーは,近年,産業への応用が進められている。このナノテクノロジーは,その分野横断的性質から,半導体産業を始めとするエレクトロニクスから,医療まで広い分野にわたって,社会に大きな便益を齎すことが期待されている。そして,ナノテクノロジーが,サイエンスの領域から,テクノロジーとして利用されるに伴って,その利便性と社会受容性の向上のため,標準化の必要性が高まってきた。本稿では,ナノテクノロジー国際標準化において,中心的な役割を担っているISO/CT229の設立からの経緯について述べた。更に,WG2(計測とキャラクタリゼーション)における標準化活動の経緯について解説し,その現状について報告した。最後に,ナノ環境・安全(nano EHS)に対する,計測とキャラクタリゼーションの活動について述べた。

シソーラス用語： *ナノテクノロジー ,  *計量 ,  *標準化 ,  国際標準化機構 ,  環境
準シソーラス用語： *国際標準化 ,  ISO【国際機関】 ,  ナノ環境

分類 (1件)： 計測機器一般  (AD02000X)

引用文献 (1件)：

• 1)“Outline strategy for ISO TC229/WG2 Ver. 8.0” 2008 (unpublished), prepared by the Study Group on Strategy of ISO TC229/WG2 (led by Hossain K/NPL)

タイトルに関連する用語 (4件)： ナノテクノロジー ,  計量 ,  計測 ,  標準化