特許

J-GLOBAL ID：200903069145145509

浮遊物質濃度粒度測定装置

発明者： 森田 佐一郎 ,  角 哲也 ,  小宮 秀昭 ,  越智 隆志
出願人/特許権者： 横河電機株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-172160
公開番号（公開出願番号）：特開2002-365199
出願日： 2001年06月07日
公開日（公表日）： 2002年12月18日
要約：

【要約】【課題】 浮遊物質の濃度が測定出来ると共に、測定流体に含まれる所定粒度の浮遊物質の量が測定出来る浮遊物質濃度粒度測定装置を提供する。【解決手段】 多段にカスケ-ド接続されて設けられ測定流体が蓄えられる測定槽と、この測定槽に蓄えられる測定流体流量を測定する流量計と、前記測定槽に設けられ前記測定流体の浮遊物質混入濃度を測定する濁度計と、前記測定槽間に設けられ所定粒度の浮遊物質を分離する分離器とを具備したことを特徴とする浮遊物質濃度粒度測定装置である。

請求項（抜粋）：

多段にカスケ-ド接続されて設けられ測定流体が蓄えられる測定槽と、この測定槽に蓄えられる測定流体流量を測定する流量計と、前記測定槽に設けられ前記測定流体の浮遊物質混入濃度を測定する濁度計と、前記測定槽間に設けられ所定粒度の浮遊物質を分離する分離器とを具備したことを特徴とする浮遊物質濃度粒度測定装置。

IPC (2件)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/06

FI (2件)：

G01N 15/02 F ,  G01N 15/06 E