特許
J-GLOBAL ID：200903080348673369

微細粒子成分分析装置

発明者：
出口 祥啓

出口 祥啓 について

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田中 伸幸

田中 伸幸 について

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古谷 正裕

古谷 正裕 について

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津崎 昌東

津崎 昌東 について


出願人/特許権者：
三菱重工業株式会社

三菱重工業株式会社 について

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財団法人電力中央研究所

財団法人電力中央研究所 について


代理人 (4件)： 光石 俊郎 ,  光石 忠敬 ,  田中 康幸 ,  松元 洋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-295717
公開番号（公開出願番号）：特開2008-111757
出願日： 2006年10月31日
公開日（公表日）： 2008年05月15日
要約：
【課題】比較的低濃度の成分も確実に分析することができる微細粒子成分分析装置を提供する。【解決手段】大気をサンプリングするサンプリング装置11と、サンプリング装置11でサンプリングされたサンプリングガス1中から目的とする粒径のナノメータサイズの微細粒子2を分級して送出する静電式の分級器12と、分級器12から送出された微細粒子2のうちの一部を吸着すると共に、吸着した当該微細粒子2の成分を送出する濃縮装置15と、分級器12からの微細粒子2の成分及び濃縮装置15からの微細粒子2の成分を分析するレーザイオン化飛行時間型の質量分析装置14と、分級器12からの微細粒子2及び濃縮装置15からの微細粒子2の成分のいずれか一方を質量分析装置14に送給するように切り換える三方制御弁16A〜16Cを備えて微細粒子成分分析装置10を構成した。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ガス中の微細粒子の成分を分析する微細粒子成分分析装置であって、 前記ガスをサンプリングするガスサンプリング手段と、 前記ガスサンプリング手段でサンプリングされた前記ガス中から目的とする粒径の前記微細粒子を分級して送出する分級手段と、 前記分級手段から送出された前記微細粒子のうちの一部を蓄積すると共に、蓄積した当該微細粒子の成分を送出する濃縮手段と、 前記分級手段からの前記微細粒子の成分及び前記濃縮手段からの前記微細粒子の成分を分析する分析手段と を備えていることを特徴とする微細粒子成分分析装置。
IPC (6件)：
G01N 1/22 ,  G01N 15/06 ,  G01N 30/00 ,  G01N 27/60 ,  G01N 27/62 ,  G01N 15/02
FI (10件)：
G01N1/22 L ,  G01N15/06 D ,  G01N30/00 B ,  G01N27/60 C ,  G01N27/62 B ,  G01N27/62 K ,  G01N27/62 G ,  G01N1/22 D ,  G01N1/22 G ,  G01N15/02 F
Fターム (21件)：
2G041BA02 ,  2G041BA15 ,  2G041CA01 ,  2G041DA03 ,  2G041EA07 ,  2G041GA06 ,  2G041GA14 ,  2G041GA17 ,  2G041JA17 ,  2G052AA01 ,  2G052AA02 ,  2G052AC02 ,  2G052AD04 ,  2G052AD24 ,  2G052AD44 ,  2G052BA05 ,  2G052CA04 ,  2G052EB11 ,  2G052ED03 ,  2G052JA08 ,  2G052JA09
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (6件)
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