特許
J-GLOBAL ID：201003044395450267

プラント監視装置およびプラント状態表示方法

発明者：
村山 大

村山 大 について

, 
山崎 益男

山崎 益男 について

, 
飯野 穣

飯野 穣 について

, 
中井 昭祐

中井 昭祐 について

, 
谷 明憲

谷 明憲 について


出願人/特許権者：
株式会社東芝

株式会社東芝 について


代理人 (21件)： 鈴江 武彦 ,  蔵田 昌俊 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  福原 淑弘 ,  峰 隆司 ,  白根 俊郎 ,  村松 貞男 ,  野河 信久 ,  幸長 保次郎 ,  河野 直樹 ,  砂川 克 ,  風間 鉄也 ,  勝村 紘 ,  河井 将次 ,  佐藤 立志 ,  岡田 貴志 ,  堀内 美保子 ,  竹内 将訓 ,  市原 卓三 ,  山下 元
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-163771
公開番号（公開出願番号）：特開2010-003267
出願日： 2008年06月23日
公開日（公表日）： 2010年01月07日
要約：
【課題】複数のセンサの値と物理的現象に基づく知見とを利用してプラントの機器の変化を的確に捉えることができるようにすること。【解決手段】プラント監視装置100は、プラント10を構成する機器の各所に設置された複数のセンサ1,2,...,nにより検出される複数のプロセスデータの測定値に基づいて当該プラント10の運転状態を示す情報を表示装置15に表示するものである。このプラント監視装置100は、センサ1,2,...,nから得られる複数の測定値を表示装置15に表示させる表示処理装置11を含む。表示処理装置11は、第1のセンサの測定値と、この第1のセンサ以外の第2のセンサ群の各測定値から所定の数理モデルを用いて計算される、前記第1のセンサの測定値に相当する計算値とを、一緒に表示装置15に表示させる機能を有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
プラントを構成する機器の各所に設置された複数のセンサにより検出される複数のプロセスデータの測定値に基づいて当該プラントの運転状態を示す情報を表示装置に表示するプラント監視装置であって、 前記複数のセンサから得られる複数の測定値を前記表示装置に表示させる表示処理手段を具備し、 前記表示処理手段は、第1のセンサの測定値と、この第1のセンサ以外の第2のセンサ群の各測定値から所定の数理モデルを用いて計算される、前記第1のセンサの測定値に相当する計算値とを、一緒に前記表示装置に表示させる手段を有することを特徴とするプラント監視装置。
IPC (1件)：
G05B 23/02
FI (3件)：
G05B23/02 302V ,  G05B23/02 301P ,  G05B23/02 302R
Fターム (6件)：
5H223AA01 ,  5H223BB01 ,  5H223DD03 ,  5H223DD09 ,  5H223EE06 ,  5H223FF05
引用特許：
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (4件)
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