特許

J-GLOBAL ID：201103020179664628

プローブチップ、プローブチップ作成方法、試料検出方法、及び試料検出装置

発明者： 岡野 和宣 ,  神原 秀記 ,  植松 千宗 ,  松永 浩子 ,  入江 隆史 ,  梶山 智晴 ,  安田 賢二
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 井上 学
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-241330
公開番号（公開出願番号）：特開2000-060554
特許番号：特許第3829491号
出願日： 1998年08月27日
公開日（公表日）： 2000年02月29日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 プローブを保持するゲルを有し、かつ第1の方向に配置された区画と、 前記区画に配置される第1の電極と、 前記第1の方向に沿って配置される第2の電極と、 前記第1の電極と前記第2の電極との間に配置される第3の電極と、 高周波電界印加手段とを具備し、 前記高周波電界印加手段は、前記第1の電極と前記第2の電極との間、もしくは前記第2の電極と前記第3の電極との間に高周波電界を印加することを特徴とするプローブチップ。

IPC (4件)：

C12Q 1/68 ( 200 6.01) ,  G01N 27/447 ( 200 6.01) ,  G01N 27/327 ( 200 6.01) ,  G01N 33/50 ( 200 6.01)

FI (4件)：

C12Q 1/68 A ,  G01N 27/26 301 Z ,  G01N 27/30 351 ,  G01N 33/50 P

引用文献：

出願人引用 (1件)

• Proc. Acad. Natl. Sci. USA, 1996, Vol.93, No.10, 4913-4918

審査官引用 (1件)

• Proc. Acad. Natl. Sci. USA, 1996, Vol.93, No.10, 4913-4918