特許
J-GLOBAL ID：201103021947343557
半球面鏡式比熱容量測定法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
工業技術院計量研究所長
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-352900
公開番号（公開出願番号）：特開平10-170459
特許番号：特許第2873943号
出願日： 1996年12月13日
公開日（公表日）： 1998年06月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】平板状の測定試料の表面にレーザビームを照射して加熱し、試料の温度上昇を放射温度計により計測して比熱容量を測定する方法において、上記測定試料の表裏両側に対向設置した半球面鏡により、試料表面に照射されるレーザビームの反射光を再び試料表面に戻してレーザビームの吸収率を高め、且つ試料裏面からの熱放射を多重反射させて試料裏面の実効放射率を高め、測定試料の吸収率及び放射率の差による比熱容量の測定誤差を低減して、比熱容量を測定する、ことを特徴とする半球面鏡式比熱容量測定法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 25/18 H
, G01K 17/06
