特許

J-GLOBAL ID：201103028383998382

被検体通過中の散乱光成分抑制方法およびその装置

発明者： 清水 孝一 ,  山本 克之 ,  金子 守
出願人/特許権者： オリンパス光学工業株式会社
代理人 (1件)： 伊藤 進
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平2-081552
公開番号（公開出願番号）：特開平3-279843
特許番号：特許第2852096号
出願日： 1990年03月29日
公開日（公表日）： 1991年12月11日
請求項（抜粋）：

【請求項1】光源から被検体にビーム光を照射する光照射手順と、前記光源から照射される前記ビーム光の光軸上に配置した第1のコリメータに、前記被検体を透過した前記ビーム光を入射する第1の光入射手順と、前記第1のコリメータを介して出力される前記ビーム光の強度を第1の光検出手段で検出する第1の光検出手順と、前記光源から出射されるビーム光の光軸に対して所定の角度を有して配置した第2のコリメータに、前記被検体を透過したビーム光を入射する第2の光入射手順と、前記第2のコリメータを介して出力される前記ビーム光の強度を第2の光検出手段で検出する第2の光検出手順と、前記第1の光検出手段から出力される第1の検出信号と前記第2の光検出手段から出力される第2の検出信号とに基づき、前記被検体を透過する前記ビーム光から散乱光成分を抑制した光成分情報を演算手段で演算する演算手順と、を備えたことを特徴とする被検体通過光中の散乱光成分抑制方法。

IPC (2件)：

G01N 21/17 ,  G01N 21/49

FI (2件)：

G01N 21/17 A ,  G01N 21/49 A

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平1-209342
  
• 特開昭52-049077
  
• 特開平1-196538
  
• 特開平3-211447