特許

J-GLOBAL ID：201103037718599193

非磁性近見反応計測方法および装置

発明者： 武田 常廣 ,  遠藤 博史 ,  橋本 佳三
出願人/特許権者： 工業技術院長
代理人 (1件)： 工業技術院生命工学工業技術研究所長
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-050686
公開番号（公開出願番号）：特開平9-238903
特許番号：特許第2733216号
出願日： 1996年03月08日
公開日（公表日）： 1997年09月16日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 磁気シールド室内に被検者の脳内の反応を計測する脳内反応計測装置を設置し、眼の歪まない実像を所定距離離れた位置に結像させるリレーレンズ系が搭載された非磁性部材の一端を前記磁気シールド室内の被検者の眼の位置に、他端を前記磁気シールド室外の所定の位置に位置させ、前記リレーレンズ系が搭載された非磁性部材の他端位置に前記被検者の眼に対する調節刺激を与える調節刺激付与装置および該調節刺激に対する眼の反応を計測する眼反応計測装置を配置し、前記調節刺激付与装置により前記被検者の眼に対して調節刺激を与えつつ、前記眼および脳内反応計測装置で前記調節刺激に対する眼および脳内反応を同時に計測することを特徴とする非磁性近見反応計測方法。

IPC (4件)：

A61B 5/05 ,  A61B 3/10 ,  A61B 3/11 ,  A61B 5/055

FI (4件)：

A61B 5/05 A ,  A61B 3/10 M ,  A61B 3/10 A ,  A61B 5/05 390