特許
J-GLOBAL ID：201103055142642231
放射率測定法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
工業技術院計量研究所長
公報種別：特許公告
出願番号（国際出願番号）：特願平1-067179
公開番号（公開出願番号）：特開平2-245646
出願日： 1989年03月17日
公開日（公表日）： 1990年10月01日
請求項（抜粋）：
【請求項1】半球面鏡を試料の前方に設置し、半球面鏡の頂点付近を通る接線方向の軸を回転中心にして往復回転運動させ、半球面鏡の後方に設置されている放射計から半球面鏡の回転位置により周囲の放射輝度、試料表面の放射輝度及び試料表面と半球面鏡の間の多重反射による見掛けの放射輝度を瞬間的かつ連続的に測定して、周囲の放射輝度を基準にする試料単独の放射輝度と見掛けの放射輝度との無次元的な比率から放射率を求めることを特徴とする放射率測定法。
IPC (1件)：
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