特許
J-GLOBAL ID:201103071142830793

X線透過窓、X線吸収微細構造測定用セルおよび反応システム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 森 幸一
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-356564
公開番号(公開出願番号):特開2006-162506
特許番号:特許第4587290号
出願日: 2004年12月09日
公開日(公表日): 2006年06月22日
請求項(抜粋):
【請求項1】 立方晶窒化ホウ素を主成分とし、X線吸収微細構造測定に支障を生じる不純物を実質的に含まない多結晶体からなるX線透過窓を用いたことを特徴とするX線吸収微細構造測定用セル。
IPC (3件):
G01N 23/06 ( 200 6.01) ,  G21K 5/00 ( 200 6.01) ,  G21K 5/02 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01N 23/06 ,  G21K 5/00 W ,  G21K 5/02 X
引用特許:
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (1件)
  • 特開平3-054440

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