化合物の品質劣化予測方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：古谷栄男 , 松下正 , 鶴本祥文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-164621
公開番号（公開出願番号）：特開2011-021903
出願日： 2009年07月13日
公開日（公表日）： 2011年02月03日
要約：

【課題】化合物の品質劣化予測を、非線形解析法(薄板スプライン法)を用いて精度良く行う。【解決手段】実験値データファイル32に記憶されたデータを読込(S02)。薄板スプライン補間処理を行い、応答曲面モデルを生成(S04)。予測値を得るために必要な条件データを入力(S06)。条件データを、スプライン補間(薄板スプライン法)によって生成した各応答曲面モデルの式にX1〜X5の値だけを与え、予測値Y1’、Y2’を得る(S08)。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

化合物の品質劣化を予測するための品質劣化予測方法であって、予測対象である酸化反応及び加水分解反応による劣化を起こす化合物について、少なくとも時間を1つの入力指標として含む特定指標の値を実測して得た実験値データを蓄積する実験値蓄積工程、前記実験値蓄積工程により得た実験値データに基づき薄板スプライン法を用いて非線形解析を行うことにより応答曲面モデルを生成し、所定条件で保存した後の品質劣化出力指標の値を当該応答曲面モデルに基づいて算出する出力指標算出工程、を備えたこと、を特徴とする品質劣化予測方法。

IPC (3件)：

G01N 17/00 , G01N 33/28 , G01N 33/02

FI (3件)：

G01N17/00 , G01N33/28 , G01N33/02

Fターム (9件)：

2G050AA02 , 2G050BA03 , 2G050BA04 , 2G050BA20 , 2G050CA10 , 2G050EA01 , 2G050EA06 , 2G050EA10 , 2G050EB10

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