質量分析法、及び質量分析装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (8件)：杉村興作 , 高見和明 , 徳永博 , 岩佐義幸 , 藤谷史朗 , 来間清志 , 冨田和幸 , 阿相順一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-057750
公開番号（公開出願番号）：特開2005-249479
特許番号：特許第3774770号
出願日： 2004年03月02日
公開日（公表日）： 2005年09月15日
請求項（抜粋）：

【請求項1】空間中に磁場勾配を生成する工程と、前記空間中に微粒子を飛翔させ、前記微粒子に対して前記磁場勾配に起因した磁気力を前記微粒子の飛翔方向に沿って作用させる工程と、前記微粒子の前記飛翔方向における前記磁気力による速度及び加速度を計測し、その速度及び加速度から前記微粒子の質量を計測する工程と、を具えることを特徴とする、質量分析法。

IPC (1件)：