文献

J-GLOBAL ID：201202210788107198   整理番号：12A0543311

フィールドテストのための温度・電圧推定回路の試作評価

Evaluation of a thermal and voltage estimation circuit for field test

著者 (10件)： 三宅庸資 (九州工大 大学院情報工学府) ,  三宅庸資 (JST-CREST) ,  佐藤康夫 (九州工大 大学院情報工学研究院) ,  佐藤康夫 (JST-CREST) ,  梶原誠司 (九州工大 大学院情報工学研究院) ,  梶原誠司 (JST-CREST) ,  宮瀬紘平 (九州工大 大学院情報工学研究院) ,  宮瀬紘平 (JST-CREST) ,  三浦幸也 (首都大学東京 システムデザイン) ,  三浦幸也 (JST-CREST)
資料名： 電子情報通信学会技術研究報告  (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))
巻： 111  号： 435(DC2011 76-86)  ページ： 61-66  発行年： 2012年02月06日 
JST資料番号： S0532B  ISSN： 0913-5685  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： VLSIの組み込まれたシステムには高いディペンダビリティが要求されるものもある。VLSIの高機能化や高性能化,製造プロセスの微細化に伴い,劣化等により生じるVLSIの故障を事前に検知し,障害発生による突然のシステムダウンを回避することが重要になっている。劣化現象として回路遅延の増加が知られているが,フィールドテストでの遅延測定では,VLSIの温度や電圧等の環境要因による遅延への影響を考慮する必要がある。本論文では,フィールドテスト時に温度・電圧を測定,環境要因の影響を排除した高精度な遅延測定を実現するため,リングオシレータを核とする温度・電圧推定回路の試作と,試作した温度・電圧推定回路から得られる温度・電圧変化特性の測定および評価に関する関して述べる。(著者抄録)

シソーラス用語： 回路試験 ,  *現場試験 ,  *超LSI ,  *故障検出 ,  遅れ ,  リング発振器 ,  温度 ,  電圧
準シソーラス用語： *劣化検出 ,  回路遅延

分類 (2件)： CAD,CAM  (JE10000A) ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G)

タイトルに関連する用語 (4件)： フィールドテスト ,  推定 ,  試作 ,  評価