文献

J-GLOBAL ID：201202240151199834   整理番号：12A1436897

周波数変調検出方式高周波静電気力顕微鏡法を用いたカーボンナノチューブの局所欠陥評価

著者 (5件)： 池田尚弘 (京大 大学院) ,  宮戸祐治 (大阪大 大学院) ,  小林圭 (京大 SACI) ,  野田啓 (京大 大学院) ,  山田啓文 (京大 大学院)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Meeting. Japan Society of Applied Physics (CD-ROM))
巻： 73rd  ページ： ROMBUNNO.12A-E2-10  発行年： 2012年08月27日 
JST資料番号： Y0055B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *周波数変調 ,  HF【周波数】 ,  *力顕微鏡 ,  *カーボンナノチューブ ,  *欠陥 ,  走査型プローブ顕微鏡 ,  FET【トランジスタ】
準シソーラス用語： カーボンナノチューブ電界効果トランジスタ ,  高周波 ,  *静電気力顕微鏡 ,  走査ゲート顕微鏡

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (6件)： 周波数変調 ,  高周波 ,  静電気力顕微鏡 ,  カーボンナノチューブ ,  欠陥 ,  評価