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J-GLOBAL ID：201202255817852306   整理番号：12A1439128

カーボンナノチューブ電界電子放出源の劣化機構

著者 (4件)： 恵美健央 (大阪大 大学院) ,  黒田圭介 (大阪大 大学院) ,  平原佳織 (大阪大 大学院) ,  中山喜萬 (大阪大 大学院)
資料名： 応用物理学会学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts of the Meeting. Japan Society of Applied Physics (CD-ROM))
巻： 73rd  ページ： ROMBUNNO.13P-C2-4  発行年： 2012年08月27日 
JST資料番号： Y0055B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *カーボンナノチューブ ,  *電界放出 ,  *電子源 ,  *劣化 ,  寿命 ,  ホットエレクトロン ,  静電気

分類 (2件)： 熱電子放出,電界放出  (BM09020S) ,  電子源,イオン源  (BD02020U)

タイトルに関連する用語 (2件)： カーボンナノチューブ ,  電界電子放出