特許
J-GLOBAL ID:201203098440859420

標的物質の検出方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 谷川 英次郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-250339
公開番号(公開出願番号):特開2012-103055
出願日: 2010年11月08日
公開日(公表日): 2012年05月31日
要約:
【課題】検出すべき標的物質を簡便、迅速、高感度に検出することができる、標的物質の検出方法及びそのための装置を提供すること。【解決手段】標的物質の検出方法は、検出すべき標的物質と特異的に結合する特異結合性物質と、標的物質を含むかもしれない被検試料とを接触させる工程と、所定のサイズの透孔を有する膜の一方側に前記工程で得られた混合物を接触させる工程と、前記透孔が閉塞されるか否かを調べる工程を含む。所定のサイズは、標的物質と結合していない特異結合性物質は通過できるが、標的物質と結合した特異結合性物質は通過できないサイズである。【選択図】図2
請求項(抜粋):
標的物質の検出方法であって、 検出すべき標的物質と特異的に結合する特異結合性物質と、前記標的物質を含むかもしれない被検試料とを接触させる工程と、 所定のサイズの透孔を有する膜の一方側に前記工程で得られた混合物を接触させる工程と、 前記透孔が閉塞されるか否かを調べる工程を含み、 前記所定のサイズは、前記標的物質と結合していない前記特異結合性物質は通過できるが、前記標的物質と結合した前記特異結合性物質は通過できないサイズである、標的物質の検出方法。
IPC (1件):
G01N 33/53
FI (1件):
G01N33/53 G
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)
引用文献:
出願人引用 (1件)
  • 電気化学会第77回大会講演要旨集, 201003, p176 1F20
審査官引用 (1件)
  • 電気化学会第77回大会講演要旨集, 201003, p176 1F20

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