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J-GLOBAL ID：201302210880812075   整理番号：13A0707256

TEMを用いたNi/YSZ境界分析

Ni/YSZ boundaries analysis using TEM

著者 (4件)： LIU Shu-Sheng ,  KOYAMA Michihisa ,  TOH Shoichi ,  MATSUMURA Syo
資料名： 電気化学会大会講演要旨集
巻： 80th  ページ： 191  発行年： 2013年03月29日 
JST資料番号： Y0048A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 固体酸化物燃料電池 ,  電極材料 ,  電極過程 ,  アノード ,  *ニッケル化合物 ,  セラミック ,  *酸化イットリウム ,  *酸化ジルコニウム ,  スクリーン印刷 ,  エポキシ樹脂 ,  *透過型走査電子顕微鏡 ,  *高分解能電子顕微鏡 ,  *透過型電子顕微鏡 ,  走査電子顕微鏡 ,  集束イオンビーム ,  エネルギー分散X線分光分析 ,  電子エネルギー損失分光法 ,  *界面 ,  固相 ,  顆粒 ,  凝集 ,  *厚み ,  *配向 ,  間隔 ,  格子 ,  面 ,  接触 ,  電子顕微鏡観察
準シソーラス用語： EDS【分光分析】 ,  EELS ,  FIB-SEM ,  *HRTEM ,  *STEM【顕微鏡】 ,  SOFC【電池】 ,  *YSZ【セラミック】 ,  スクリーンプリンティング ,  格子間隔 ,  *固固界面 ,  収束イオンビーム ,  接触面 ,  *配向性

分類 (5件)： 燃料電池  (YB04040V) ,  電極過程  (CB07040U) ,  無機化合物一般及び元素  (CD01010D) ,  固-固界面  (CB12060M) ,  電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B)

タイトルに関連する用語 (5件)： TEM ,  Ni ,  YSZ ,  境界 ,  分析