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文献
J-GLOBAL ID:201302239281771512   整理番号:13A0787302

高分子材料の二次元赤外相関解析

Two-Dimensional Infrared Correlation Analysis on Polymer Materials
著者 (1件):
資料名:
巻: 112  号: 456(OME2012 90-104)  ページ: 39-40  発行年: 2013年02月26日 
JST資料番号: S0532B  ISSN: 0913-5685  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 短報  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
抄録/ポイント:
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赤外分光法は,官能基の存在だけでなく,その官能基がおかれている微視的な状態についても詳細に教えてくれる。赤外スペクトルの測定は比較的簡便であり,測定装置(FT-IR)も普及しているが,そのスペクトル形状は複雑で,得られたチャートから分子情報を正確に読み取ることは容易ではない。実験によって得られた分析チャートをコンピューター解析するための様々なツールが知られているが,本講演ではその中で,二次元相関法と呼ばれる解析手法を紹介する。また,実際に高分子材料の赤外スペクトルを二次元相関解析した事例を示し,どのような分子情報が得られるかを述べる。(著者抄録)
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分類 (2件):
分類
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高分子固体の構造と形態学  ,  赤外スペクトル及びRaman散乱,Ramanスペクトル一般 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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