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J-GLOBAL ID：201302261796659230   整理番号：13A1780902

極低暗計数率超伝導単一光子検出器の性能調査

Investigation of the Performance of an Ultralow-Dark-Count Superconducting Nanowire Single-Photon Detector

著者 (14件)： SUBASHCHANDRAN Shanthi (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  SUBASHCHANDRAN Shanthi (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OKAMOTO Ryo (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  OKAMOTO Ryo (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  ZHANG Labao (Nanjing Univ., Nanjing, CHN) ,  TANAKA Akira (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  TANAKA Akira (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  OKANO Masayuki (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  OKANO Masayuki (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KANG Lin (Nanjing Univ., Nanjing, CHN) ,  CHEN Jian (Nanjing Univ., Nanjing, CHN) ,  WU Peiheng (Nanjing Univ., Nanjing, CHN) ,  TAKEUCHI Shigeki (Hokkaido Univ., Sapporo, JPN) ,  TAKEUCHI Shigeki (Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名： Japanese Journal of Applied Physics  (Japanese Journal of Applied Physics)
巻： 52  号： 10,Issue 1  ページ： 102801.1-102801.5  発行年： 2013年10月25日 
JST資料番号： G0520B  ISSN： 0021-4922  CODEN： JJAPB6  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 高い検出効率(DE)を持った,極微小光計数率(DCR)の実現は,量子情報技術,物質科学,および生物学的感知において単一光子探知器を使用する多くの応用に対し重要である。この目的のために,蛇行タイプの窒化ニオブナノワイヤ(幅:50nm)を有するファイバーに結合した超伝導のナノワイヤ単一光子探知器(SNSPD)を調査した。DEのバイアス電流依存性の正確な測定が,広いスペクトル域で,(500から1650nmまで50nmステップで)白色光源,およびレーザラインのブラッグ調整可能なバンドパスフィルタを使用することで行われた。超低のDCR(0.0015cps)および高いDE(32%)が同時に,500nmの波長でSNSPDによって達成された。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *計数率 ,  *光検出器 ,  検出効率 ,  光学 ,  量子情報 ,  材料科学 ,  バイオセンサ ,  帯域フィルタ
準シソーラス用語： バイオセンシング ,  バンドパスフィルタ ,  *暗計数率 ,  *単一光子検出器 ,  微小光学 ,  物質科学

分類 (2件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F) ,  金属系超伝導体の物性  (BM04022R)

引用文献 (30件)：

• A. Migdall: J. Mod. Opt. 51 (2004) 1265.
• P. Zoller, Th. Beth, D. Binosi, R. Blatt, H. Briegel, D. Bruss, T. Calarco, J. I. Cirac, D. Deutsch, J. Eisert, A. Ekert, C. Fabre, N. Gisin, P. Grangiere, M. Grassl, S. Haroche, A. Imamoglu, A. Karlson, J. Kempe, L. Kouwenhoven, S. Kröll, G. Leuchs, M. Lewenstein, D. Loss, N. Lütkenhaus, S. Massar, J. E. Mooij, M. B. Plenio, E. Polzik, S. Popescu, G. Rempe, A. Sergienko, D. Suter, J. Twamley, G. Wendin, R. Werner, A. Winter, J. Wrachtrup, and A. Zeilinger: Eur. Phys. J. D 36 (2005) 203.
• R. Okamoto, J. L. O'Brien, H. F. Hofmann, T. Nagata, K. Sasaki, and S. Takeuchi: Science 323 (2009) 483.
• R. Okamoto, J. L. O'Brien, H. F. Hofmann, and S. Takeuchi: Proc. Natl. Acad. Sci. U.S.A. 108 (2011) 10067.
• T. Nagata, R. Okamoto, J. L. O'Brien, K. Sasaki, and S. Takeuchi: Science 316 (2007) 726.

タイトルに関連する用語 (3件)： 暗計数率 ,  超伝導単一光子検出器 ,  性能調査