抄録/ポイント：
抄録/ポイント
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ナノテクノロジーに関する国際標準化活動で日本は特に計測と特性評価で主体的に貢献してきた。SPMによるナノ計測法の国際標準化に併せてナノ計測の標準化に係わる最近の動向とそれを元にした,特にISO/TC229/WG2で議論されているロードマップを紹介した。ISO,IECや経済協力開発機構(OECD)が中心となり,2008年2月にアメリカ国立標準技術研究所(NIST)で標準化のワークショップが開かれ,以後ISO/TC229の総会の場でTC,SCの関係者が集まり定期的な会合を開いている。2011年にはNISTで国際標準化のワークショップが開催された。欧州では特にナノ物質の環境への影響に対する懸念が広く,標準化に係わる指令(EG Mandate/461)が出ている。すなわち欧州標準化委員会(CEN),欧州電気標準化委員会(CENELEC)と欧州電気通信標準化機構(ETSI)に対して国際標準化の動きの把握と国際標準化機関(ISO,IEC)と国際電気通信連合(ITU)に対してどの様な協力を求めるのか明らかにする様求めている。その結果,CEN/TC352からナノ計測について「ナノ物質の物性評価手法の標準」(12項目)について協力要請が来ている。ナノ物質を製造状態で特性評価する手法の検討で未対応な部分もある。ISO/TC229とIEC/TC113は共同でISO/TC229/WG2を共同で運営してきた。WG2は炭素系用工業ナノ材料に関する計測法の標準化を主に行ってきた。単層CNTの評価に関しての4段階での標準化法が米国側からの提案されている。分析法も3段階に分けている。第1段階の標準化をほぼ終えている。今後の展開方針を6分類の領域に分けてロードマップの形で示した。
